BS IEC 62373-1-2020 PDF
Название на английском:
STB BS IEC 62373-1-2020
Название на русском:
СТБ BS IEC 62373-1-2020
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Тест на стабильность при изменении напряжения и температуры для металлооксидных, полупроводниковых, полевых транзисторов (MOSFET) - Быстрый тест BTI для MOSFET. Оригинальный стандарт BS IEC 62373-1-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Fast BTI test for MOSFET. Original standard BS IEC 62373-1-2020 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
26
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stbs30704
More technical details are being prepared for this document.