BS IEC 63068-2-2019 PDF
Название на английском:
STB BS IEC 63068-2-2019
Название на русском:
СТБ BS IEC 63068-2-2019
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Критерии неразрушающего распознавания дефектов в гомоэпитаксиальной пластине карбида кремния для силовых приборов - метод контроля дефектов с помощью оптического контроля. Оригинальный стандарт BS IEC 63068-2-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Test method for defects using optical inspection. Original standard BS IEC 63068-2-2019 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
28
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stbs30917
More technical details are being prepared for this document.