BS IEC 63275-1-2022 PDF
Название на английском:
STB BS IEC 63275-1-2022
Название на русском:
СТБ BS IEC 63275-1-2022
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Метод проверки надежности дискретных полевых транзисторов на основе металлооксидного полупроводника из карбида кремния - Метод проверки нестабильности при изменении напряжения смещения. Оригинальный стандарт BS IEC 63275-1-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Test method for bias temperature instability. Original standard BS IEC 63275-1-2022 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
16
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stbs30962
More technical details are being prepared for this document.