BS ISO 17331-2004 + A1-2010 PDF
Название на английском:
STB BS ISO 17331-2004 + A1-2010
Название на русском:
СТБ BS ISO 17331-2004 + A1-2010
Описание на русском:
Химический анализ поверхности. Химические методы сбора элементов с поверхности кремниевых пластин в качестве рабочих эталонных материалов и их определения методом рентгеновской флуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF). Оригинальный стандарт BS ISO 17331-2004 + A1-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy. Original standard BS ISO 17331-2004 + A1-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
28
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stbs34108
More technical details are being prepared for this document.