UNE-EN 60749-38-2008 PDF
Название на английском:
STB UNE-EN 60749-38-2008
Название на русском:
СТБ UNE-EN 60749-38-2008
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Метод тестирования программных ошибок для полупроводниковых приборов с памятью. Оригинальный стандарт UNE-EN 60749-38-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Soft error test method for semiconductor devices with memory. Original standard UNE-EN 60749-38-2008 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
16
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stune05867
More technical details are being prepared for this document.