ГОСТ 14226-80

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров

Почвы. Определение обменного (подвижного) алюминия по методу ЦИНАО

Технологии искусственного интеллекта для обработки данных дистанционного зондирования Земли. Алгоритмы искусственного интеллекта для определения типов объектов дорожно-транспортной сети на космических снимках, получаемых с космических аппаратов оптико-электронного наблюдения. Типовая методика проведения испытаний

Картон обувной. Метод определения жесткости и изгибостойкости при статическом изгибе

Устройства для ламп. Аппараты пускорегулирующие для разрядных ламп (кроме трубчатых люминесцентных ламп). Общие требования и требования безопасности

Фуражки форменные. Технические условия