ASTM E1162-26 PDF
Название на английском:
St ASTM E1162-26
Название на русском:
Ст ASTM E1162-26
Описание на русском:
Стандартная практика представления данных профилирования по глубине распылением во вторично-ионной масс-спектрометрии (SIMS). Оригинальный стандарт ASTM E1162-26 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). Original standard ASTM E1162-26 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
4
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm28976
More technical details are being prepared for this document.