IEEE Std 1149.10-2017 PDF
Название на английском:
St IEEE Std 1149.10-2017
Название на русском:
Ст IEEE Std 1149.10-2017
Описание на русском:
Стандарт IEEE на высокоскоростной порт доступа для тестирования и внутрикристальную архитектуру распределения Оригинальный стандарт IEEE Std 1149.10-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
IEEE Standard for High-Speed Test Access Port and On-Chip Distribution Architecture Original standard IEEE Std 1149.10-2017 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
96
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
8 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stieee001205
More technical details are being prepared for this document.