IEEE Std 1181-1991 PDF
Название на английском:
St IEEE Std 1181-1991
Название на русском:
Ст IEEE Std 1181-1991
Описание на русском:
Рекомендуемая практика IEEE по методам испытаний на защёлкивание для определения характеристик технологических процессов изготовления интегральных схем CMOS и BiCMOS Оригинальный стандарт IEEE Std 1181-1991 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated- Circuit Process Characterization Original standard IEEE Std 1181-1991 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
36
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stieee001227
More technical details are being prepared for this document.