IEEE Std 1450.6.1-2009 PDF
Название на английском:
St IEEE Std 1450.6.1-2009
Название на русском:
Ст IEEE Std 1450.6.1-2009
Описание на русском:
Стандарт IEEE на описание внутрикристального сжатия данных сканирования Оригинальный стандарт IEEE Std 1450.6.1-2009 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
IEEE Standard for Describing On-Chip Scan Compression Original standard IEEE Std 1450.6.1-2009 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
66
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
5 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stieee001433
More technical details are being prepared for this document.