IEEE Std 1505.1-2019 PDF
Название на английском:
St IEEE Std 1505.1-2019
Название на русском:
Ст IEEE Std 1505.1-2019
Описание на русском:
Стандарт IEEE на конфигурацию расположения контактов общего испытательного интерфейса высокой плотности с одним ярусом для испытаний электронной аппаратуры с использованием IEEE Std 1505 Оригинальный стандарт IEEE Std 1505.1-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 Original standard IEEE Std 1505.1-2019 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
158
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
10 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stieee001503
More technical details are being prepared for this document.