IEEE Std 1687-2014 PDF
Название на английском:
St IEEE Std 1687-2014
Название на русском:
Ст IEEE Std 1687-2014
Описание на русском:
Стандарт IEEE на доступ к контрольно-измерительным средствам, встроенным в полупроводниковое устройство, и управление ими Оригинальный стандарт IEEE Std 1687-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device Original standard IEEE Std 1687-2014 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
283
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
13 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stieee001744
More technical details are being prepared for this document.