IEEE Std 1838-2019 PDF
Название на английском:
St IEEE Std 1838-2019
Название на русском:
Ст IEEE Std 1838-2019
Описание на русском:
Стандарт IEEE на архитектуру доступа для тестирования трёхмерных интегральных схем с вертикальным расположением кристаллов Оригинальный стандарт IEEE Std 1838-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
IEEE Standard for Test Access Architecture for Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits Original standard IEEE Std 1838-2019 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
73
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
5 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stieee001854
More technical details are being prepared for this document.