IEEE Std 2427-2025 PDF
Название на английском:
St IEEE Std 2427-2025
Название на русском:
Ст IEEE Std 2427-2025
Описание на русском:
Стандарт IEEE на моделирование и тестовое покрытие дефектов аналоговых схем Оригинальный стандарт IEEE Std 2427-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
IEEE Standard for Analog Defect Modeling and Coverage Original standard IEEE Std 2427-2025 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
112
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
8 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stieee002074
More technical details are being prepared for this document.