IEEE Std 300-1988 (2006) PDF

Ст IEEE Std 300-1988 (2006)

Название на английском:
St IEEE Std 300-1988 (2006)

Название на русском:
Ст IEEE Std 300-1988 (2006)

Описание на русском:

Стандартные процедуры испытаний IEEE полупроводниковых детекторов заряженных частиц Оригинальный стандарт IEEE Std 300-1988 (2006) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Описание на английском:
IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors Original standard IEEE Std 300-1988 (2006) in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
35

Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)

Артикул (SKU):
stieee000508

Выберите версию документа:
4 200 руб.
More technical details are being prepared for this document.