IEEE Std 300-1988 (2006) PDF
Название на английском:
St IEEE Std 300-1988 (2006)
Название на русском:
Ст IEEE Std 300-1988 (2006)
Описание на русском:
Стандартные процедуры испытаний IEEE полупроводниковых детекторов заряженных частиц Оригинальный стандарт IEEE Std 300-1988 (2006) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors Original standard IEEE Std 300-1988 (2006) in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
35
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stieee000508
More technical details are being prepared for this document.