JIS C 5003-1974 (1982) PDF
Название на английском:
St JIS C 5003-1974 (1982)
Название на русском:
Ст JIS C 5003-1974 (1982)
Описание на русском:
Общая методика испытаний для определения интенсивности отказов электронных компонентов Оригинальный стандарт JIS C 5003-1974 (1982) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
General Test Procedure of Failure Rate for Electronic Components Original standard JIS C 5003-1974 (1982) in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
12
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stjis001859
More technical details are being prepared for this document.