JIS K 0148-2005 PDF
Название на английском:
St JIS K 0148-2005
Название на русском:
Ст JIS K 0148-2005
Описание на русском:
Химический анализ поверхности. Определение элементного загрязнения поверхности кремниевых пластин методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии с полным внешним отражением (TXRF) Оригинальный стандарт JIS K 0148-2005 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis—Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy Original standard JIS K 0148-2005 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Заменен JIS K 0148-2026
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
31
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stjis003741
More technical details are being prepared for this document.