SAE J1752-2-2016 PDF
Название на английском:
St SAE J1752-2-2016
Название на русском:
Ст SAE J1752-2-2016
Описание на русском:
Измерение излучения интегральных схем - метод поверхностного сканирования (метод петлевого зонда) в диапазоне частот от 10 МГц до 3 ГГц. Оригинальный стандарт SAE J1752-2-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits-Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz. Original standard SAE J1752-2-2016 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
10
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stsae09161
More technical details are being prepared for this document.