SAE J1752-3-2017 PDF
Название на английском:
St SAE J1752-3-2017
Название на русском:
Ст SAE J1752-3-2017
Описание на русском:
Измерение излучения от интегральных схем - метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц). Оригинальный стандарт SAE J1752-3-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits-TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; TEM Cell (150 kHz to 1 GHz), Wideband TEM Cell (150 kHz to 8 GHz). Original standard SAE J1752-3-2017 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
16
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stsae09162
More technical details are being prepared for this document.