BS ISO 17470-2014 PDF

СТБ BS ISO 17470-2014

Название на английском:
STB BS ISO 17470-2014

Название на русском:
СТБ BS ISO 17470-2014

Описание на русском:

Микропучковый анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом волнодисперсионной рентгеновской спектрометрии. Оригинальный стандарт BS ISO 17470-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Описание на английском:
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry. Original standard BS ISO 17470-2014 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
22

Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)

Артикул (SKU):
stbs34184

Выберите версию документа:
6 000 руб.
More technical details are being prepared for this document.