VDI VDE 2630 Blatt-2-1 Berichtigung 2023-04 PDF
Название на английском:
STB VDI VDE 2630 Blatt-2-1 Berichtigung 2023-04
Название на русском:
STB VDI VDE 2630 Blatt-2-1 Berichtigung 2023-04
Оригинальный стандарт VDI VDE 2630 Blatt-2-1 Berichtigung 2023-04 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Полное наименование и описание
VDI/VDE 2630 Blatt 2.1 Berichtigung:2023-04 — Berichtigung (корректировка) к руководящей директиве VDI/VDE 2630 Blatt 2.1:2015-06 «Computertomografie in der dimensionellen Messtechnik — Bestimmung der Messunsicherheit und der Prüfprozesseignung von Koordinatenmessgeräten mit CT‑Sensoren». Документ вносит исправления и уточнения в положения оригинальной части 2.1, касающиеся определения погрешности (неопределенности) измерений и оценки пригодности измерительного процесса при применении координатно‑измерительных систем с CT‑сенсорами.
Аннотация
Данная Berichtigung (корректировка), опубликованная в апреле 2023 г., уточняет и исправляет текст VDI/VDE 2630 Blatt 2.1:2015-06, включая формулировки методов определения измерительной неопределенности и критериев «проверяемости» (test process suitability) при использовании КИМ‑систем с CT‑датчиками. Корректировка выпускается на немецком и английском языках и предназначена для использования совместно с оригинальным текстом 2015 г. в целях приведения методики в соответствие с практикой и устранения ошибок/неточностей.
Общая информация
- Статус: Действующий документ / Berichtigung (корректировка) к VDI/VDE 2630 Blatt 2.1:2015-06.
- Дата публикации: апрель 2023 г. (в источниках указывается 1 апреля 2023 г. как дата выпуска корректировки).
- Организация-издатель: Vereinigung Deutscher Ingenieure / VDI совместно с VDE (публикация и распространение через VDI/DIN‑поставщиков стандартов).
- ICS / категории: области неразрушающего контроля и измерительной техники; в справочных описаниях указаны коды ICS, относящиеся к неразрушающему контролю и метрологии (например, 19.100 и сопутствующие разделы).
- Редакция / версия: Berichtigung (исправление) к редакции VDI/VDE 2630 Blatt 2.1:2015-06 — версия корректировки 2023-04.
- Количество страниц: 19 страниц в тексте корректировки (формат PDF/печать); оригинал части 2.1 (2015) — 47 страниц.
Область применения
Корректировка касается процедур и методик, применяемых при метрологическом использовании компьютерной томографии (industrial CT) для размерного контроля и измерений: определение компонент измерительной неопределенности, проверка пригодности измерительного процесса (test process suitability) для координатно‑измерительных систем с CT‑сенсорами, а также примечания по проверке/верификации процедур. Документ предназначен для инженеров по метрологии, лабораторий контроля качества, производителей CT‑систем и специалистов по калибровке.
Ключевые темы и требования
- Методики определения измерительной неопределенности при применении CT‑измерений (уточнения и исправления к алгоритмам/формулам).
- Критерии и статистические показатели для оценки «проверяемости» (test process suitability) измерительного процесса.
- Процедуры верификации и промежуточных проверок (interim check) измерительных систем с CT‑датчиками.
- Примеры расчётов и практические приложения (аннекс с примером определения неопределённости и пригодности процесса).
- Уточнение терминологии и правки текста оригинальной редакции 2015 г. для устранения неоднозначностей.
Применение и пользователи
Документ применяется в промышленной метрологии и контроле качества при 3D‑контроле деталей методом промышленной компьютерной томографии. Основные пользователи: метрологические лаборатории, производители деталей и комплектующих (авиация, автомобильная промышленность, медицина), поставщики CT‑оборудования, аккредитационные и калибровочные центры. Применение — для оценки точности измерений, подтверждения пригодности измерительных процессов и разработки процедур калибровки/валидации.
Связанные стандарты
Корректировка является частью семейства VDI/VDE 2630 (части по компьютерной томографии в размерной метрологии). Сопутствующие документы: VDI/VDE 2630 Blatt 1.1 (фундаментальные определения), Blatt 1.2 (влияющие факторы и рекомендации), другие части серии, а также соответствующие руководства по проверке КИМ/CT и по применению DIN EN ISO‑методик. Рекомендуется использовать корректировку совместно с оригиналом VDI/VDE 2630 Blatt 2.1:2015-06 и с сумежными частями серии.
Ключевые слова
CT, компьютерная томография, измерительная неопределённость, test process suitability, координатно‑измерительные системы, VDI/VDE 2630, корректировка 2023, метрология, верификация измерений.
FAQ
В: Что это за стандарт?
О: Это корректировка (Berichtigung) к части VDI/VDE 2630 Blatt 2.1:2015‑06, посвящённой использованию компьютерной томографии в размерной метрологии, в частности методам определения измерительной неопределённости и оценке пригодности измерительного процесса.
В: Что он регулирует?
О: Корректировка вносит исправления и уточнения в методики определения неопределённости измерений, критерии оценки пригодности измерительного процесса (test process suitability), процедуры промежуточной проверки и примеры расчётов, использующиеся при метрологическом применении CT‑систем.
В: Кто обычно использует?
О: Специалисты по метрологии и контролю качества на производстве, аккредитованные лаборатории, инженеры и разработчики CT‑оборудования, а также организации, выполняющие валидацию и калибровку измерительных процессов.
В: Он актуален или заменён?
О: Это корректировка к действующей редакции VDI/VDE 2630 Blatt 2.1:2015‑06; сама корректировка опубликована в апреле 2023 г. и предназначена для использования совместно с оригиналом 2015 г. На момент публикации корректировки она дополняет, а не заменяет основную часть 2.1. Пользователям рекомендуется применять оригинал 2015 г. вместе с корректировкой 2023 г. для обеспечения актуальности методик.
В: Это часть серии?
О: Да — это часть серии VDI/VDE 2630, включающей несколько листов (Blatt) по компьютерной томографии в размерных измерениях (Blatt 1.1, 1.2, 1.3, 2.1 и др.), каждый из которых охватывает отдельные аспекты методики и метрологии.
В: Какие ключевые слова?
О: CT, компьютерная томография, измерительная неопределённость, test process suitability, координатно‑измерительные системы, VDI/VDE 2630, корректировка, метрология, верификация.