TDS PDF
Стандарт IEEE. Стандартный язык тестового интерфейса (STIL) для данных цифровых тестовых векторов Оригинальный стандарт IEEE Std 1450-1999 (2011) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Withdrawn
Стандарт IEEE. Стандартный язык тестового интерфейса (STIL) для данных цифровых тестовых векторов Оригинальный стандарт IEEE Std 1450-2023 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Стандарт IEEE на расширения стандартного языка тестового интерфейса (STIL) (IEEE Std 1450-1999) для сред проектирования полупроводниковых устройств Оригинальный стандарт IEEE Std 1450.1-2005 (2011) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Withdrawn
Стандарт IEEE на расширения стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводниковых устройств Оригинальный стандарт IEEE Std 1450.1-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Стандарт IEEE на расширения стандартного языка тестового интерфейса (STIL) (IEEE Std 1450-1999) для задания уровней постоянного напряжения и тока Оригинальный стандарт IEEE Std 1450.2-2002 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Withdrawn
Стандарт IEEE на расширения стандартного языка тестового интерфейса (STIL) (IEEE Std. 1450-1999) для задания характеристик целевого тестера Оригинальный стандарт IEEE Std 1450.3-2007 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Withdrawn