TDS PDF

↑
Ст IEEE Std 1450.4-2017

Стандарт IEEE на расширения стандартного языка тестового интерфейса (STIL) (IEEE Std 1450-1999) для задания последовательности тестирования Оригинальный стандарт IEEE Std 1450.4-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
Ст IEEE Std 1450.6-2005 (2011)

Стандарт IEEE. Стандартный язык тестового интерфейса (STIL) для данных цифровых тестовых векторов. Язык тестирования ядер (CTL) Оригинальный стандарт IEEE Std 1450.6-2005 (2011) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

4 200 руб.
Ст IEEE Std 1450.6.1-2009

Стандарт IEEE на описание внутрикристального сжатия данных сканирования Оригинальный стандарт IEEE Std 1450.6.1-2009 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

4 200 руб.
Ст IEEE Std 1450.6.2-2014

Стандарт IEEE на моделирование памяти на языке тестирования ядер (Core Test Language) Оригинальный стандарт IEEE Std 1450.6.2-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

4 200 руб.
Ст IEEE Std 1451.0-2007

Стандарт IEEE на интеллектуальный интерфейс преобразователей для датчиков и исполнительных устройств. Общие функции, протоколы связи и форматы электронных паспортов преобразователей (TEDS) Оригинальный стандарт IEEE Std 1451.0-2007 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

4 200 руб.
Ст IEEE Std 1451.0-2024

Стандарт IEEE на интеллектуальный интерфейс преобразователей для датчиков и исполнительных устройств. Общие функции, протоколы связи и форматы электронных паспортов преобразователей (TEDS) Оригинальный стандарт IEEE Std 1451.0-2024 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

4 200 руб.
↑