STM PDF

Полупроводниковые приборы - Дискретные устройства - Часть 8: Полевые транзисторы. Оригинальный стандарт IEC 60747-8-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Дискретные устройства - Часть 9: Биполярные транзисторы с изолированным затвором (IGBT). Оригинальный стандарт IEC 60747-9-2007 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60747-9-2019

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 10: Механический удар. Оригинальный стандарт IEC 60749-10-2002 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-10-2022

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 10: Механический удар. Оригинальный стандарт IEC 60749-10-2002 сor1-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-10-2022

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 15- Устойчивость к температуре пайки для устройств, монтируемых через отверстие. Оригинальный стандарт IEC 60749-15-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-15-2020

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 17- Нейтронное облучение. Оригинальный стандарт IEC 60749-17-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-17-2019