STM PDF

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 18- Ионизирующее излучение (общая доза). Оригинальный стандарт IEC 60749-18-2002 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-18-2019

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 20-1- Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке. Оригинальный стандарт IEC 60749-20-1-2009 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-20-1-2019

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 20- Устойчивость SMD-модулей в пластиковой капсуле к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке. Оригинальный стандарт IEC 60749-20-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-20-2020

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 28- Испытания чувствительности к электростатическому разряду (ESD) - Модель заряженного устройства (CDM) - уровень устройства. Оригинальный стандарт IEC 60749-28-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-28-2022

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 30- Предварительная подготовка негерметичных устройств для поверхностного монтажа перед испытанием на надежность. Оригинальный стандарт IEC 60749-30-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-30-2020

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 37- Метод испытания на падение уровня платы с использованием акселерометра. Оригинальный стандарт IEC 60749-37-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-37-2022