IEEE Std 1505.1-2008 PDF
Название на английском:
St IEEE Std 1505.1-2008
Название на русском:
Ст IEEE Std 1505.1-2008
Описание на русском:
Стандарт IEEE на конфигурацию расположения контактов общего испытательного интерфейса высокой плотности с одним ярусом для испытаний электронной аппаратуры с использованием IEEE Std 1505 Оригинальный стандарт IEEE Std 1505.1-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 Original standard IEEE Std 1505.1-2008 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Заменен Ст IEEE Std 1505.1-2019
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
170
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
10 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stieee001502
More technical details are being prepared for this document.