TDS PDF

Стандарт IEEE. Интерфейс для моделей описания аппаратуры электронных компонентов Оригинальный стандарт IEEE Std 1499-1998 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

Стандарт IEEE. Метод обеспечения тестопригодности интегральных схем со встроенными ядрами Оригинальный стандарт IEEE Std 1500-2005 (2011) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEEE Std 1500-2022

Стандарт IEEE. Метод обеспечения тестопригодности интегральных схем на основе встроенных ядер Оригинальный стандарт IEEE Std 1500-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Рекомендуемая практика IEEE по методикам испытаний для определения эффективной площади рассеяния радиолокационной цели Оригинальный стандарт IEEE Std 1502-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Стандарт IEEE на интерфейс между приёмным устройством и испытательной оснасткой Оригинальный стандарт IEEE Std 1505-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

Стандарт IEEE на конфигурацию расположения контактов общего испытательного интерфейса высокой плотности с одним ярусом для испытаний электронной аппаратуры с использованием IEEE Std 1505 Оригинальный стандарт IEEE Std 1505.1-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEEE Std 1505.1-2019