STM PDF
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 42- Методы измерений характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрического кантилевера MEMS. IEC 62047-42:2022-09(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-42-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 43- Метод испытания электрических характеристик после циклической деформации изгиба гибких микроэлектромеханических устройств. IEC 62047-43:2024-03(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-43-2024 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 44- Методы испытаний динамических характеристик MEMS резонансных устройств, чувствительных к электрическому полю. IEC 62047-44:2024-02(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-44-2024 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 45- Технология изготовления MEMS на основе кремния - Метод измерения ударной прочности наноструктур. IEC 62047-45:2025-03. Оригинальный стандарт IEC 62047-45-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 46- Технология изготовления MEMS на основе кремния - Метод измерения прочности на разрыв мембраны наноразмерной толщины. IEC 62047-46:2025-04. Оригинальный стандарт IEC 62047-46-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 47- Технология изготовления MEMS на основе кремния - Метод измерения прочности микроструктур на изгиб. IEC 62047-47:2024-08. Оригинальный стандарт IEC 62047-47-2024 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий