STM PDF

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 30- Методы измерений характеристик электромеханического преобразования тонкой пьезоэлектрической пленки MEMS. IEC 62047-30:2017-09(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-30-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 31- Метод испытания на четырехточечный изгиб для определения энергии межфазной адгезии слоистых материалов MEMS. IEC 62047-31:2019-04(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-31-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 32- Метод испытания нелинейной вибрации резонаторов MEMS. IEC 62047-32:2019-01(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-32-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 33- MEMS пьезорезистивное устройство, чувствительное к давлению. IEC 62047-33:2019-04(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-33-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 34- Методы испытаний пьезорезистивного устройства, чувствительного к давлению, MEMS на пластине. IEC 62047-34:2019-04(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-34-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 35- Метод испытания электрических характеристик при изгибной деформации гибких электромеханических устройств. IEC 62047-35:2019-11(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-35-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий