STM PDF

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 8- Метод испытания полосы на изгиб для измерения свойств тонких пленок на растяжение. IEC 62047-8:2011. Оригинальный стандарт IEC 62047-8-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 9- Измерение прочности соединения между пластинами для MEMS. IEC 62047-9:2011. Оригинальный стандарт IEC 62047-9-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Поправка 1 - Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 9- Измерение прочности соединения между пластинами для MEMS. Оригинальный стандарт IEC 62047-9-2011 cor1-2012 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Синтез на уровне регистровых передач (RTL) на языке VHDL. Оригинальный стандарт IEC 62050-2005 (IEEE 1076.6) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Оборудование учета электроэнергии - Общие требования, испытания и условия испытаний - Часть 11- Измерительное оборудование. IEC 62052-11:2020-06(en). Оригинальный стандарт IEC 62052-11-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Поправка 1 - Изменение 1 - Оборудование для измерения электрической энергии переменного тока (A.C.) - Общие требования, испытания и условия испытаний - Часть 21: Аппаратура управления тарифами и нагрузкой. IEC 62052-21:2004-05/AMD1:2016-11/COR1:2018-03(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62052-21-2004 amd1-2016 cor1-2018 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий