STM PDF

Изменение 1 - Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 23- Срок службы при высоких температурах. Оригинальный стандарт IEC 60749-23-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-23-2025

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 24- Повышенная влагостойкость - Непредвзятый HAST. Оригинальный стандарт IEC 60749-24-2004 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-24-2025

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 25- Циклическое изменение температуры. IEC 60749-25:2003. Оригинальный стандарт IEC 60749-25-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 26- Испытания чувствительности к электростатическому разряду (ESD) - Модель человеческого тела (HBM). IEC 60749-26:2018-01(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-26-2018 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-26-2025

Изменение 1 - Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 27- Испытания чувствительности к электростатическому разряду (ESD) - Модель машины (MM). Оригинальный стандарт IEC 60749-27-2012 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 28- Испытания чувствительности к электростатическому разряду (ESD) - Модель заряженного устройства (CDM) - уровень устройства. IEC 60749-28:2022-03(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-28-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий