STM PDF

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 38- Метод проверки программных ошибок для полупроводниковых приборов с памятью. IEC 60749-38:2008. Оригинальный стандарт IEC 60749-38-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 39- Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для изготовления полупроводниковых компонентов. IEC 60749-39:2021-11(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-39-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 4- Влажное тепло, устойчивое состояние, ускоренное испытание на воздействие нагрузок (HAST). IEC 60749-4:2017-03(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-4-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 40- Метод испытания на падение уровня платы с использованием тензодатчика. IEC 60749-40:2011. Оригинальный стандарт IEC 60749-40-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 41- Стандартные методы испытаний надежности энергонезависимых запоминающих устройств. IEC 60749-41:2020-07(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-41-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 42- Хранение температуры и влажности. IEC 60749-42:2014-08(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-42-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий