STM PDF

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 43- Рекомендации по планам квалификации надежности IC. IEC 60749-43:2017-06(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-43-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 63287-1-2021

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 44- Метод испытания однособытийного эффекта нейтронного луча (SEE) для полупроводниковых приборов. IEC 60749-44:2016-07(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-44-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 5- Испытание на долговечность при устойчивом смещении температуры и влажности. IEC 60749-5:2023-12(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-5-2023 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 6- Хранение при высокой температуре. IEC 60749-6:2017-03(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-6-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 7- Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов. IEC 60749-7:2011. Оригинальный стандарт IEC 60749-7-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-7-2025

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 8- Уплотнение. IEC 60749-8:2002. Оригинальный стандарт IEC 60749-8-2002 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий