STM PDF

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 33- Повышенная влагостойкость - Непредвзятый автоклав. Оригинальный стандарт IEC 60749-33-2004 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 34-1- Испытание циклического включения и выключения силового полупроводникового модуля. IEC 60749-34-1:2025-06. Оригинальный стандарт IEC 60749-34-1-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 34- Выключение и включение питания. IEC 60749-34:2010. Оригинальный стандарт IEC 60749-34-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 35- Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах. IEC 60749-35:2006. Оригинальный стандарт IEC 60749-35-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 36- Ускорение, устойчивое состояние. CEI/IEC 60749-36:2003. Оригинальный стандарт IEC 60749-36-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 37- Метод испытания на падение уровня платы с использованием акселерометра. IEC 60749-37:2022-10(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-37-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий